Axio Imager 2材料研究金相顯微鏡

   可重復(fù)的結(jié)果

   享受無振動的工作條件

   欣賞AxioImager2穩(wěn)定的成像條件，尤其是在使用高放大倍率或執(zhí)行時間依賴性研究時。由于AxioImager2的機動化，可在始終在恒定條件下工作的同時實現(xiàn)快速且可重復(fù)的結(jié)果。

  用于材料研究的蔡司AxioImager2蔡司金相顯微鏡

   用于自動材料分析的開放式顯微鏡系統(tǒng)

   當(dāng)您進(jìn)行高級材料研究時，請在光學(xué)顯微鏡工作流程中引入易用性。使用ZEISSAxioImager2獲得材料的準(zhǔn)確且可重復(fù)的結(jié)果，讓您受益匪淺。選擇適合您的應(yīng)用的系統(tǒng)。通過顆粒分析、共焦或相關(guān)顯微鏡等專用解決方案擴展您的儀器。

   可重復(fù)的結(jié)果

   模塊化設(shè)計

   模塊化設(shè)計

   獲得增強的靈活性

   無論是在學(xué)術(shù)研究還是工業(yè)研究中，材料顯微鏡都面臨著各種挑戰(zhàn)。借助AxioImager2，您將能夠應(yīng)對并贏得這些挑戰(zhàn)。連接特定于應(yīng)用的組件并執(zhí)行例如顆粒分析。研究非金屬夾雜物(NMI)、液晶或基于半導(dǎo)體的MEM。通過共焦或相關(guān)顯微鏡專用解決方案擴展您的儀器。

    高光學(xué)性能

   實現(xiàn)出色的對比度和分辨率

   使用不同的對比技術(shù)檢查一系列材料，例如金屬、復(fù)合材料或液晶。

   使用反射光并在明場、暗場、微分干涉襯度(DIC)、圓微分干涉襯度(C-DIC)、偏振或熒光下觀察樣品。

   使用透射光并在明場、暗場、微分干涉襯度(DIC)、偏振或圓偏振下檢查樣品。對比度管理器確保可重復(fù)的照明設(shè)置。